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三維多功能掃描儀 IC EMC測(cè)試設(shè)備電磁干擾掃描系統(tǒng) 抗干擾開(kāi)發(fā)系統(tǒng)

產(chǎn)品圖片	產(chǎn)品名稱/型號(hào)	產(chǎn)品簡(jiǎn)單介紹
	電磁兼容診斷系統(tǒng) RSE321	電子產(chǎn)品中的電場(chǎng)，磁場(chǎng)和熱分布的設(shè)計(jì)，診斷和調(diào)試是極其重要的幾個(gè)環(huán)節(jié)，它們將直接影響電子產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。而這些性能的調(diào)試一直以來(lái)由于無(wú)法＂可視觀察＂而很困難進(jìn)行。工程師往往只能夠憑工作經(jīng)驗(yàn)進(jìn)行反復(fù)試驗(yàn)。電磁兼容診斷系統(tǒng)積聚了現(xiàn)代電子產(chǎn)品的工程調(diào)試經(jīng)驗(yàn)，運(yùn)用了先進(jìn)的高靈敏度高精度近場(chǎng)傳感器技術(shù)，結(jié)合了計(jì)算機(jī)和頻譜分析的成熟手段，電磁兼容診斷系統(tǒng)是給工程師以方便實(shí)用的工具。
	IC電磁發(fā)射測(cè)試系統(tǒng) IEC61967-6	EC61967-6磁場(chǎng)探頭法是通過(guò)測(cè)試PCB板導(dǎo)線上的電流來(lái)評(píng)定集成電路的電磁發(fā)射所組成的IC電磁發(fā)射測(cè)試系統(tǒng)。IC電磁發(fā)射測(cè)試系統(tǒng)是芯片引腳通過(guò)PCB板上的導(dǎo)線與電源或外圍電路相連，因而它產(chǎn)生的射頻電流可用一個(gè)靠近的磁場(chǎng)探頭獲取，由電磁感應(yīng)定律，探頭輸出端的電壓正比于導(dǎo)線上的射頻電流。
	抗干擾開(kāi)發(fā)系統(tǒng) E1	大部分電子產(chǎn)品需要通過(guò)電快速瞬變脈沖群（Burst）和靜電放電（ESD）等項(xiàng)目的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試。測(cè)試時(shí)，把干擾脈沖從設(shè)備外部耦合到內(nèi)部，同時(shí)監(jiān)視設(shè)備的工作狀態(tài)。如果設(shè)備沒(méi)有通過(guò)這些標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試，測(cè)試本身幾乎不能提供任何如何解決問(wèn)題的信息。 E1抗干擾開(kāi)發(fā)系統(tǒng)能采用不同的方式，向電子模塊直接注入干擾電流、電場(chǎng)和磁場(chǎng)，在設(shè)備內(nèi)部仿真干擾的過(guò)程，以定位電路板上電磁薄弱點(diǎn)，理解耦合機(jī)理，完成優(yōu)化后的設(shè)計(jì)修改。 E1抗干擾開(kāi)發(fā)系統(tǒng)不能按照某個(gè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行兼容性測(cè)試。所以建議先對(duì)被測(cè)物進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)的抗干擾測(cè)試（必要的話，在EMC實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行測(cè)試），然后對(duì)可能的故障原因進(jìn)行分析，再利用E1抗干擾開(kāi)發(fā)系統(tǒng)來(lái)找出更多的故障原因，并利用E1在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)場(chǎng)地進(jìn)行設(shè)計(jì)修改的評(píng)估。
	高分辨率電磁干擾掃描系統(tǒng) EMxpert EHX+	EMxpert EHX+ 高分辨率電磁干擾掃描系統(tǒng)具有1218個(gè)探頭，內(nèi)置高性能頻譜分析儀能夠?qū)崟r(shí)看清電磁場(chǎng)，準(zhǔn)確定位電磁干擾問(wèn)題。EMxpert EHX+ 高分辨率電磁干擾掃描系統(tǒng)把EMC問(wèn)題的考慮和抑制引入到設(shè)計(jì)階段，讓設(shè)計(jì)工程師及早發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，及時(shí)從根源采取有效措施，消除或抑制電磁干擾，從而加快產(chǎn)品的設(shè)計(jì)進(jìn)程，提高設(shè)計(jì)質(zhì)量，節(jié)省開(kāi)發(fā)費(fèi)用，確保產(chǎn)品及早通過(guò)EMC測(cè)試。
	E1 磁場(chǎng)探頭 S2 set	電子設(shè)備和電子元件在干擾作用下會(huì)產(chǎn)生快速瞬態(tài)脈沖磁場(chǎng)，E1 磁場(chǎng)探頭 S2 set探頭組中包含的有源和無(wú)源磁場(chǎng)探頭可以無(wú)反饋地測(cè)量這些快速瞬態(tài)脈沖磁場(chǎng)。借此就可以分析爆沖或ESD-過(guò)程，爆沖或ESD會(huì)對(duì)受測(cè)物產(chǎn)生干擾。磁場(chǎng)探頭通過(guò)光纖連接把測(cè)得的信號(hào)傳到SGZ 21的光學(xué)輸入口。E1 磁場(chǎng)探頭 S2 set探頭組只能與脈沖群發(fā)生器SGZ21 連接使用。
	IC電磁發(fā)射測(cè)試系統(tǒng) TEM小室法	依據(jù)IEC 61967-2的IC電磁發(fā)射測(cè)試系統(tǒng)-TEM小室法其實(shí)就是一個(gè)變型的同軸線，由一塊扁平的芯板作為內(nèi)導(dǎo)體，外導(dǎo)體為方形，兩端呈錐形向通用的同軸器件過(guò)渡，一頭連接同軸線到測(cè)試接收機(jī)，另一頭連接匹配負(fù)載。IC電磁發(fā)射測(cè)試系統(tǒng)中的小室的外導(dǎo)體頂端有一個(gè)方形開(kāi)口用于安裝測(cè)試電路板。
	IC測(cè)試板 HS61967-1	依據(jù)IEC 61967-1 IC測(cè)試板，由接地平面、IC適配器、連接板等組成。集成電路電磁兼容測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，目前出版的有集成電路電磁發(fā)射測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IEC61967和集成電路電磁抗擾度標(biāo)準(zhǔn)IEC62132以及IEC 62215。
	IC電磁發(fā)射測(cè)試系統(tǒng) 1Ω/150Ω直接耦合法	依據(jù)IEC 61967-4的IC電磁發(fā)射測(cè)試系統(tǒng)-1Ω/150Ω直接耦合法是根據(jù)集成電路電磁兼容測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，目前出版的有集成電路電磁發(fā)射測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IEC61967和集成電路電磁抗擾度標(biāo)準(zhǔn)IEC62132 。依據(jù)IEC 61967-4的IC電磁發(fā)射測(cè)試系統(tǒng)-1Ω/150Ω直接耦合法，用于150kHz到1GHz的集成電路電磁發(fā)射測(cè)試。
	IC脈沖群抗擾度測(cè)試系統(tǒng) HS62215	IC脈沖群抗擾度測(cè)試系統(tǒng)是根據(jù)集成電路電磁兼容的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的測(cè)試系統(tǒng)，IC脈沖群抗擾度測(cè)試系統(tǒng)主要有電磁發(fā)射測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IEC 61967（用于150kHz到1GHz的集成電路電磁發(fā)射測(cè)試）、電磁抗擾度標(biāo)準(zhǔn)IEC 62132（用于頻率為150kHz到1GHz的集成電路射頻抗擾度測(cè)試）以及脈沖抗擾度標(biāo)準(zhǔn)IEC 62215。
	溫度掃描儀 Heat Scanner	對(duì)于任何想要檢測(cè)被測(cè)件溫度分布的人來(lái)說(shuō)，要同事兼顧精度和成本的話，Detectus生產(chǎn)的溫度掃描儀是不錯(cuò)的選擇，溫度掃描儀具有很高的分辨率，測(cè)試結(jié)果可以用二維和三維的形式呈現(xiàn)出來(lái)。
	PCB板電磁兼容掃描系統(tǒng) RSE642	PCB板電磁兼容掃描系統(tǒng)配合高精度近場(chǎng)探頭對(duì)集成電路進(jìn)行高精度電磁場(chǎng)掃描，探頭可三維移動(dòng)，3D顯示，快速定位；PCB板電磁兼容掃描系統(tǒng)還可連接溫度探頭，進(jìn)行溫度檢測(cè)。
	電磁場(chǎng)掃描儀 EMC Scanner	EMC scanner電磁場(chǎng)掃描儀配合高精度近場(chǎng)探頭對(duì)集成電路進(jìn)行高精度電磁場(chǎng)掃描，EMC scanner電磁場(chǎng)掃描儀的探頭可三維移動(dòng)，3D顯示，快速定位。
	四軸定位IC掃描儀 ICS 105 set	ICS 105型四軸定位IC掃描儀，可對(duì)集成電路和小型組件進(jìn)行高頻近場(chǎng)測(cè)量。ICS 105 set 四軸定位IC掃描儀還可以單獨(dú)訂購(gòu)的 ICR 型近場(chǎng)微探頭適用于 1.5MHz 至 6GHz 頻率范圍內(nèi)的測(cè)量，空間分辨率可達(dá)50μm。
	電磁兼容掃描儀 HRE-1	高分辨率電磁兼容掃描儀HRE-1擁有25μm的分辨率，細(xì)致入微；同時(shí)高分辨率電磁兼容掃描儀HRE-1引入3D表面模型，讓測(cè)試更立體。
	緊湊型電磁干擾掃描系統(tǒng) EMxpert	EMxpert緊湊型電磁干擾掃描系統(tǒng)把EMC問(wèn)題的考慮和抑制引入到設(shè)計(jì)階段，讓設(shè)計(jì)工程師及早發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，及時(shí)從根源采取有效措施，消除或抑制電磁干擾，從而加快產(chǎn)品的設(shè)計(jì)進(jìn)程，提高設(shè)計(jì)質(zhì)量，節(jié)省開(kāi)發(fā)費(fèi)用，確保產(chǎn)品及早通過(guò)EMC測(cè)試。EMxpert緊湊型電磁干擾掃描系統(tǒng)，由ISM電磁干擾掃描器、控制適配器以及頻譜分析儀/接收機(jī)組成。

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